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                  pct老化試驗箱測試

                  pct老化試驗箱測試

                    pct老化試驗箱測試(又名PCT高壓加速老化試驗機)

                    主要是測試半導體封裝之濕氣能力,待測產品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試,
                    濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體,常見之故障方式為主動金屬化區域腐蝕造成之斷路,或封裝體引腳間因污染造成短路等。

                    目錄

                    1 產品簡介
                    2 產品應用
                    3 規范要求
                    4 安全保護裝置
                    5 半導體測試

                    pct老化試驗箱測試-產品簡介

                    1.pct老化試驗箱測試采用最新優化設計,美觀大方,做工精細。
                    2.采用大容量水箱,試驗時間長,不中斷。
                    3.采用日本“SHIMAX”智能溫控器,具有精度高,控制穩定特點(依客戶需要也可選擇采用觸摸屏為4.3寸真彩屏,USB曲線數據下載功能,和通訊功能)。

                    pct老化試驗箱測試-產品應用    

                    廣泛應用于線路板,多層線路板,IC,LCD,磁鐵等產品之密封性能的檢測,測試其制品的耐壓性,氣密性。加速老化壽命試驗的目的是提高環境應力(如:溫度)與工
                    作應力(施加給產品的電壓、負荷等),加快試驗過程,縮短產品或系統的壽命試驗時間。

                    pct老化試驗箱測試-規范要求

                    pct老化試驗箱測試內膽采用圓弧設計,復合國家安全容器標準,可以防止試驗結露滴水現象,從而避免產品在試驗過程中受過熱蒸汽直接沖擊影響試驗結果。
                    配備雙層不銹鋼產品架,也可根據客戶產品規格尺寸免費量身定制專用產品架。

                    pct老化試驗箱測試-安全保護裝置

                    A、誤操作安全裝置:高壓加速老化試驗箱鍋門若未關緊則機器無法啟動.
                    B、超壓安全保護:當鍋內壓力超過最大工作值自動排氣泄壓.
                    C、超溫保護:當鍋內溫度過高時機器鳴叫警報并自動切斷加熱電源.
                    D、防燙傷保護:特制材質制成可防止操作人員接觸燙傷.
                    E、手動安全保護排壓伐.

                    pct老化試驗箱測試-半導體測試

                    PCT試驗箱對半導體的PCT測試:PCT最主要是測試半導體封裝之抗濕氣能力,待測品被放置嚴苛的溫濕度以及壓力環境下測試,如果半導體封裝的不好,
                    濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體之中,常見的故裝原因:爆米花效應、動金屬化區域腐蝕造成之斷路、封裝體引腳間因污染造成之短路等相關問題。
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